1. BET: в основном используется для испытания специфической площади поверхности материалов, которая может дать информацию о специфической площади поверхности материалов.

2. CV: кривая CV может быть протестирована, чтобы получить много информации, такой как требуемое напряжение электродепозиции, ток, и полупроводниковая промышленность может получить напряжение преимущества постоянного тока.

3. EIS: EIS - это электрохимическое испытание импедантной спектроскопии, которое может получить информацию о потенциале электрода и импеданте, тем самым моделируя сопротивление внутренней серии, параллельное сопротивление,и информацию о емкости системы.

4FTIR: в основном используется для испытания полимерных органических материалов, определения наличия различных полимерных связей и определения структуры материала.

5Раман: используется для определения структуры материалов путем измерения энергии вращения и энергии вибрации.

6SEM: морфология поверхности и морфологические характеристики материалов.

7. TEM: морфология поверхности и кристалличность материала.

8. XRD: в основном проверяет физические свойства и кристаллическую структуру материалов.

9Масс-спектрометрия: в основном используется для определения химического состава материалов, включая масс-спектрометрию жидкой фазы и метеорологическую масс-спектрометрию.